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全新AOI系统算法提供10μm检测能力

公司动态蓝宝科技2016-5-3 15:37:43次浏览

蓝宝科技AOI光学检测仪可提供达10μm的检测能力,能满足IC基板与高端HDI的精密生产条件。


借助成熟的aoi检测技术大幅减少了假点,相较于传统AOI效果,假点率降低了70%。异于传统AOI(黑白灰阶),系统使用不同的灯光、从各个角度进行检测,可检视出其他系统所看不到的细节。


借着一个特别设计的创新光学探测头,AOI能够适应半加成流程(SAP/mSAP)和Any-layer的要求。获专利认证的真空平面能够支持多种材料,在有限制的环境下完成灵活的测试。透过系统的在线检修功能,AOI能方便快速地检测缺点,有效减少了搬送过程中造成的损坏。智能参数设定改变了传统AOI设置流程,从反复检测法转变为一个单循环,大幅简化流程步骤。


AOI能对PCB裸板进行高速扫描和检测。该设备能够检测和查找PCB裸板上面小至10μm(0.010毫米)的生产缺陷。除了PCB裸板,AOI基于使用综合光源和光学设计的相同设备,亦可检测柔性印刷电路板(FPC)、PCB底片(薄膜)。当转换电路板材料时,无需其他的硬件转换。


AOI配置异质功能计算机硬件架构,其多重CPU和GPU协同作用,分别使串行和平行工作负载的处理能力实现最大化。该架构经过优化可在高产能情况下运行复杂的计算密集型算法,从而可检测到不同缺陷,包括印刷电路板生产过程中的断路、短路、缺口、突出、针孔、线宽不合规、最小线宽、最小空间、盲孔、导孔和其他常见缺陷。


随着PCB产业的生产条件日渐复杂,对产品性能的要求也随之提升,为此客户急需创新生产工具,同时保证获利并维持高质量与高效率的制造。在保证产量的前提下,AOI得到最佳检测成果,从而实现了IC基板与高端HDI检测的最低扫描成本,并确保能大幅提高产量


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